Telefonkabel Fehlerfindegerät
Der Fehlerfinder ISOPALM 200 dient zur Ortung eines Fehlers an Datenverbindungskabel: Isolationsfehler (durch Blitz, oder Feuchtigkeit abisoliertes Kabel) oder Kabelbruch (Komplett- oder Teiltrennung der Kabel).
- Anzeige der Fehlerposition in Meter
- Berücksichtigt Pupinspulen
- Homogene und heterogene Kabel
Mit dem ISOPALM 200 können ebenfalls Schleifenwiderstände, Isolationswiderstände und Widerstandsgleichgewicht ΔR erfasst werden. Hierfür wird das klassische Impedanzmessverfahren verwendet, dusch seine innovative Technologie hat der Anwender deutliche Vorteile bezüglich der natürlichen Brückenschaltung.
Für den Feld Einsatz entwickelt, ist er mit einer Schutzhülle ausgestattet, wird von schnell wieder aufladbaren Li-Ion Akkus der neuesten Generation versorgt und besitzt ein großes Display zur Darstellung aller laufenden Testparameter.
Leicht bedienbar, durch den direkten Zugriff über eine zentrale Datensammelschnittstelle. Tests können in der Datenbank gespeichert und die Messergebnisse werden direkt dem Test angehängt.
Unabhängig von dem getesteten Kabel Typ wird der Fehler genau berechnet: Ortung des Fehlers an homogene oder heterogene Kabel mit der Angabe des Fehlerabstandes in Meter und des Widerstandes in Ω.
Spannungsmessung AC / DC
Messbereich |
Auflösung |
Genauigkeit / 1 Jahr |
-300 bis 300 V AC / DC |
Bis 99,9 V : 0,1 V |
±1% L + 0,5 V |
Widerstandsmessung
Messbereich |
Auflösung |
Genauigkeit / 1 Jahr |
0 bis 10 KΩ |
Bis 1000 Ω : 0,1 Ω |
±0,5% L + 0,2 Ω |
Isolationsmessung 50 bis 100 V
Messbereich |
Auflösung |
Genauigkeit / 1 Jahr |
0 bis 10 KΩ |
Bis 1000 Ω : 0,1 Ω |
±0,5% L + 0,2 Ω |
Isolationsmessung 150 bis 300 V
Messbereich |
Auflösung |
Genauigkeit / 1 Jahr |
0 bis 5000 MΩ |
Von 0 bis 999 kΩ : 2 Digits nach der Komastelle |
Von 1 MΩ bis 999 MΩ : ±10% L |
Isolationsmessung 350 bis 500 V
Messbereich |
Auflösung |
Genauigkeit / 1 Jahr |
0 bis 10000 MΩ |
Von 0 bis 999 kΩ : 2 Digits nach der Komastelle |
von 1 MΩ bis 999 MΩ : ±10% L |
Kapazitätsmessung
Messbereich |
Auflösung |
Genauigkeit / 1 Jahr |
0 nF bis 2 µF |
Von 0 nF bis 1000 nF : 1 nF |
±1% L |
Fehlerortung
Typ |
Genauigkeit / 1 Jahr |
Fehler zwischen 2 Leiter des gleichen Aderpaares |
±1% L |